Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923066 - 23. novembra 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 10. - 18. jun
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 23. novembra 2010
ISBN13 9781441923066
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 282
Dimenzije 155 × 235 × 16 mm   ·   417 g
Jezik Angleščina  

Več od Adam Foster

Prikaži vse

Mere med samme udgiver