High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400921 - 27. avgusta 2004
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004 edition

Cena
€ 141,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 14. - 28. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ullrich Pietsch
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.


428 pages, 389 black & white illustrations, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 27. avgusta 2004
ISBN13 9780387400921
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 408
Dimenzije 155 × 235 × 23 mm   ·   816 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**