High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing - R. Dean Adams - Knjige - Kluwer Academic Publishers - 9781402072550 - 30. septembra 2002
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

R. Dean Adams
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing 2002 edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 21. - 29. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca R. Dean Adams

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.

250 pages, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 30. septembra 2002
ISBN13 9781402072550
Založniki Kluwer Academic Publishers
Strani 250
Dimenzije 156 × 234 × 15 mm   ·   562 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh R. Dean Adams