Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441937674 - 8. decembra 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Leendert M. Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Cena
€ 110,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 28. sep - 12. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Leendert M. Huisman

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 8. decembra 2010
ISBN13 9781441937674
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 250
Dimenzije 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Leendert M. Huisman