Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31. maja 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Joseph Goldstein
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Cena
€ 105,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 20. - 28. jul

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.

709 pages, biography

Medij Knjige     Book
Izdano 31. maja 2013
ISBN13 9781461349693
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 689
Dimenzije 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Jezik Angleščina  

Več od Joseph Goldstein

Prikaži vse

Mere med samme udgiver

Ogled vseh Joseph Goldstein ( Na primer Paperback Book , Book , Hardcover Book , CD in Oracle cards/tarot c )