IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 12. oktobra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Ravi K Gulati
IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 8. - 16. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ravi K Gulati

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 12. oktobra 2012
ISBN13 9781461363774
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 124
Dimenzije 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Jezik Angleščina  
Urednik Gulati, Ravi K.
Urednik Hawkins, Charles F.

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Ravi K Gulati