Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - S.T. Chadradhar - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461367673 - 28. septembra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1991 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 20. - 28. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca S.T. Chadradhar
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 Notation and Tenninology . 3 Minimization Technique . 4 An Example . 1 Transitive Oosure . 3 Path Sensitization . 100 References . 1 Background . 6 Summary 119 References . 2 Contribution of the Present Work . 139 References . 3 Logic Circuit Modeling . 1 Modelfor a Boolean Gate .


197 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 28. septembra 2012
ISBN13 9781461367673
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 184
Dimenzije 155 × 235 × 11 mm   ·   290 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**