Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 12. oktobra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 1. - 9. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Angela Krstic

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 12. oktobra 2012
Prvotni datum izida 1998
ISBN13 9781461375616
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 191
Dimenzije 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Angela Krstic