Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing -  - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4. oktobra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 17. - 25. jun
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.


167 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 4. oktobra 2012
ISBN13 9781461377986
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 167
Dimenzije 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Jezik Angleščina  
Urednik Zorian, Yervant

Mere med samme udgiver