Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461407874 - 18. marca 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Cena
€ 94,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 10. - 18. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ruijing Shen
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.


336 pages, 61 black & white tables, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 18. marca 2012
ISBN13 9781461407874
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 306
Dimenzije 155 × 235 × 19 mm   ·   644 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**