Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489987877 - 13. aprila 2014
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Ruijing Shen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Prejmite e-pošto, ko bo izdelek na voljo
Do you have a profile? Prijava
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ruijing Shen

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

306 pages, 61 black & white tables, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 13. aprila 2014
ISBN13 9781489987877
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 306
Dimenzije 155 × 235 × 18 mm   ·   511 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Ruijing Shen ( Na primer Hardcover Book in Paperback Book )