Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials - David C. Joy - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461486596 - 14. septembra 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials 2013 edition

Cena
€ 50,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 14. - 22. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca David C. Joy
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.


72 pages, 13 black & white illustrations, 16 colour illustrations, 2 black & white tables, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 14. septembra 2013
ISBN13 9781461486596
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 64
Dimenzije 155 × 235 × 8 mm   ·   158 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**