Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 8. junija 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 4. - 12. maj
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 8. junija 2013
ISBN13 9781475790290
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 454
Dimenzije 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Jezik Angleščina  

Več od Patrick Echlin

Prikaži vse