Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 4. junija 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Cena
€ 167,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 1. - 15. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Samuel H Cohen
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 4. junija 2013
ISBN13 9781475793277
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 250
Dimenzije 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
Jezik Angleščina  
Urednik Cohen, Samuel H.
Urednik Lightbody, Marcia L.

Več od Samuel H Cohen

Prikaži vse

Več od te serije

Več od istega **izdajatelja**