Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences -  - Knjige - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 4. januarja 2019
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

Cena
€ 208,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 17. - 25. sep
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 4. januarja 2019
ISBN13 9783030092986
Založniki Springer Nature Switzerland AG
Strani 521
Dimenzije 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
Jezik Nemščina  
Urednik Glatzel, Thilo
Urednik Sadewasser, Sascha

Več od istega **izdajatelja**