Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences -  - Knjige - Springer International Publishing AG - 9783319756868 - 19. marca 2018
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences 2018 edition

Cena
€ 208,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 2. - 10. nov
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 19. marca 2018
ISBN13 9783319756868
Založniki Springer International Publishing AG
Strani 521
Dimenzije 242 × 167 × 38 mm   ·   986 g
Jezik Nemščina  
Urednik Glatzel, Thilo
Urednik Sadewasser, Sascha

Več od istega **izdajatelja**