Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Knjige - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516093 - 14. oktobra 2020
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Cena
€ 48,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 28. sep - 6. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Behnam Ghavami

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 14. oktobra 2020
ISBN13 9783030516093
Založniki Springer Nature Switzerland AG
Strani 114
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   362 g
Jezik Nemščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Behnam Ghavami