Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Knjige - Springer International Publishing AG - 9783031442322 - 7. februarja 2024
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation 2024 edition

Cena
€ 85,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 10. - 18. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Fangzhou Xia
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).


370 pages, 200 Tables, color; 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; XXIV, 370

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 7. februarja 2024
ISBN13 9783031442322
Založniki Springer International Publishing AG
Strani 366
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   823 g
Jezik Nemščina  

Več od istega **izdajatelja**