Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642062285 - 23. novembra 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition

Cena
€ 217,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 9. - 19. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Mathias Schubert
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.


196 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 23. novembra 2010
ISBN13 9783642062285
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 196
Dimenzije 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Jezik Angleščina  

Več od Mathias Schubert

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**