Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540232490 - 26. novembra 2004
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics 2004 edition

Cena
€ 250,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 26. okt - 9. nov
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Mathias Schubert
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.


196 pages, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 26. novembra 2004
ISBN13 9783540232490
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 196
Dimenzije 155 × 232 × 12 mm   ·   476 g
Jezik Angleščina   Nemščina  

Več od istega **izdajatelja**