Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12. februarja 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
€ 103,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 16. - 24. jun

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Na voljo tudi kot:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 12. februarja 2010
ISBN13 9783642065699
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 420
Dimenzije 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Jezik Nemščina  
Urednik Bhushan, Bharat
Urednik Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver