Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642203282 - 28. septembra 2011
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Hui Xie
Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2011 edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 29. sep - 7. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Hui Xie

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

360 pages, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 28. septembra 2011
ISBN13 9783642203282
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 344
Dimenzije 155 × 235 × 25 mm   ·   612 g
Jezik Francoščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Hui Xie