Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology - Seizo Morita - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642260704 - 14. marca 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology 2009 edition

Cena
€ 208,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 25. sep - 5. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Seizo Morita
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution;


419 pages, 28 black & white illustrations, 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biograph

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 14. marca 2012
ISBN13 9783642260704
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 401
Dimenzije 234 × 157 × 31 mm   ·   585 g
Jezik Francoščina  
Urednik Giessibl, Franz J.
Urednik Morita, Seizo
Urednik Wiesendanger, Roland

Več od Seizo Morita

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**