Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909374 - 4. novembra 2009
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Alberto Bosio
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

Cena
€ 110,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 18. sep - 2. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Alberto Bosio

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.

171 pages, 22 black & white tables, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 4. novembra 2009
ISBN13 9781441909374
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 171
Dimenzije 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Alberto Bosio