Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945594 - 14. decembra 2011
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 25. sep - 5. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Nisar Ahmed

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

281 pages, black & white illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 14. decembra 2011
ISBN13 9781441945594
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 281
Dimenzije 155 × 235 × 15 mm   ·   421 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Nisar Ahmed