Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: - Ugo Valdre - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461595397 - 25. novembra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition

Cena
€ 50,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 9. - 19. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ugo Valdre
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.


319 pages, 156 black & white illustrations, 3 colour illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 25. novembra 2012
Prvotni datum izida 1989
ISBN13 9781461595397
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 319
Dimenzije 170 × 244 × 17 mm   ·   530 g
Jezik Angleščina  
Urednik Valdre, Ugo

Več od istega **izdajatelja**