Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization - Sheldon Tan - Knjige - Springer Nature Switzerland AG - 9783030261719 - 25. septembra 2019
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization 2019 edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 5. - 13. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Sheldon Tan
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 25. septembra 2019
ISBN13 9783030261719
Založniki Springer Nature Switzerland AG
Strani 460
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   916 g
Jezik Nemščina  

Več od istega **izdajatelja**