CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing - Andrei Pavlov - Knjige - Springer - 9789048178551 - 28. oktobra 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Andrei Pavlov
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Cena
€ 152,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 30. okt - 9. nov
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Andrei Pavlov

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

210 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 28. oktobra 2010
ISBN13 9789048178551
Založniki Springer
Strani 194
Dimenzije 155 × 235 × 11 mm   ·   303 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Andrei Pavlov