Rapid Reliability Assessment of VLSICs - A.P. Dorey - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461278795 - 8. marca 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Rapid Reliability Assessment of VLSICs Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

Cena
€ 50,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 30. okt - 9. nov
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca A.P. Dorey
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.


212 pages, black & white illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 8. marca 2012
ISBN13 9781461278795
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 212
Dimenzije 170 × 244 × 12 mm   ·   349 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**