CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475778007 - 26. aprila 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Rohit Kapur
CTL for Test Information of Digital ICs Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 28. okt - 5. nov
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Rohit Kapur

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability

173 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 26. aprila 2013
ISBN13 9781475778007
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 173
Dimenzije 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Rohit Kapur